9030820000
- Oscilloskop, spektrumanalysapparater samt andra instrument och apparater för mätning eller kontroll av elektriska storheter, med undantag av mätare enligt nr 9028; instrument och apparater för mätning eller påvisande av alfa-, beta-, gamma- eller röntgenstrålning, kosmisk strålning eller annan joniserande strålning
- Andra instrument och apparater
- För mätning och kontroll av halvledarplattor (wafers) eller halvledarkomponenter (även integrerade kretsar)