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- Instrumentos, aparelhos e máquinas de medida ou controlo, não especificados nem compreendidos noutras posições do presente Capítulo; projetores de perfis
- Outros instrumentos e aparelhos óticos
- Para controlo de wafers ou de dispositivos, semicondutores (incluindo os circuitos integrados), ou para controlo de fotomáscaras ou retículos utilizados na fabricação de dispositivos semicondutores (incluindo os circuitos integrados)